德國菲希爾庫侖法電解測試儀.

 德國菲希爾庫侖法電解測試儀.

COULOSCOPE® CMS2 和(he) COULOSCOPE® CMS2 STEP 根據庫(ku)侖法測(ce)量(liang)鍍層厚度和(he)多層鎳(nie)電位差

COULOSCOPE® 儀(yi)器 庫(ku)侖(lun)法(fa)是一種簡單易(yi)用(yong)(yong)能(neng)(neng)夠(gou)確(que)定(ding)金(jin)屬鍍(du)(du)層(ceng)(ceng)厚度的(de)(de)(de)電化學 分析方法(fa)。這(zhe)個方法(fa)主要應用(yong)(yong)于(yu)檢查(cha)電鍍(du)(du)層(ceng)(ceng)的(de)(de)(de)質量(liang)，現 在也適用(yong)(yong)于(yu)監控(kong)印刷(shua)線(xian)路板(ban)(ban)剩余純錫的(de)(de)(de)厚度。 使用(yong)(yong) COULOSCOPE CMS2 和(he)支架 V18 測(ce)量(liang)印刷(shua)線(xian)路板(ban)(ban)上剩余純錫的(de)(de)(de) 厚度 COULOSCOPE® CMS2 CMS2 可(ke)以(yi)測(ce)量(liang)幾(ji)乎所有(you)基(ji)材上金(jin)屬鍍(du)(du)層(ceng)(ceng)的(de)(de)(de)厚度，包(bao)括 多鍍(du)(du)層(ceng)(ceng)結(jie)構(gou)(gou); 它的(de)(de)(de)工(gong)作原(yuan)理是根據(ju)陽極溶解的(de)(de)(de)庫(ku)侖(lun)法(fa) （DIN EN ISO 2177）。 簡單的(de)(de)(de)操作和(he)菜單化的(de)(de)(de)操作指(zhi) 導使 CMS2 成為電鍍(du)(du)行業(ye)生(sheng)產監控(kong)和(he)質量(liang)檢驗理想的(de)(de)(de)解 決方法(fa)。設備為不同的(de)(de)(de)鍍(du)(du)層(ceng)(ceng)結(jie)構(gou)(gou)配備了近 100 個預留的(de)(de)(de) 應用(yong)(yong)程式(shi)(shi)（例(li)如，鐵上鍍(du)(du)鋅(xin)，黃銅上鍍(du)(du)鎳）, 以(yi)及各種電 解速度（例(li)如 1, 2, 5, and 10 μm/min）。這(zhe)些應用(yong)(yong)程 式(shi)(shi)適用(yong)(yong)于(yu)多鍍(du)(du)層(ceng)(ceng)系統。 COULOSCOPE® CMS2 STEP CMS2 STEP 的(de)(de)(de)特征是 STEP 測(ce)試功能(neng)(neng)（同時測(ce)定(ding)厚度 和(he)電位(wei)差(cha)）。 在多層(ceng)(ceng)鎳的(de)(de)(de)質量(liang)監控(kong)中用(yong)(yong)于(yu)對鍍(du)(du)層(ceng)(ceng)厚度 和(he)電位(wei)差(cha)的(de)(de)(de)標準化 STEP 測(ce)試 （根據(ju) ASTMB764-94 和(he) DIN 50022）。鍍(du)(du)層(ceng)(ceng)厚度根據(ju)庫(ku)侖(lun)法(fa)得出， 而電位(wei) 差(cha)則由(you)一個鍍(du)(du)有(you) AgCl 的(de)(de)(de)銀電極得到。


使用(yong)(yong) COULOSCOPE CMS2 和支架(jia) V18 測量(liang)印(yin)刷線(xian)路板上剩余純錫的(de)(de)(de) 厚度(du) COULOSCOPE® CMS2 CMS2 可(ke)以(yi)測量(liang)幾乎(hu)所有基材上金(jin)屬鍍(du)(du)層的(de)(de)(de)厚度(du)，包括 多鍍(du)(du)層結(jie)構; 它的(de)(de)(de)工作(zuo)(zuo)原理(li)是(shi)根(gen)據(ju)陽極溶解(jie)的(de)(de)(de)庫侖法 （DIN EN ISO 2177）。 簡單(dan)的(de)(de)(de)操(cao)作(zuo)(zuo)和菜單(dan)化的(de)(de)(de)操(cao)作(zuo)(zuo)指 導使 CMS2 成為電(dian)(dian)鍍(du)(du)行(xing)業生產監控和質(zhi)量(liang)檢(jian)驗理(li)想的(de)(de)(de)解(jie) 決方法。設備為不同的(de)(de)(de)鍍(du)(du)層結(jie)構配備了近(jin) 100 個預留的(de)(de)(de) 應用(yong)(yong)程(cheng)式（例如(ru)，鐵上鍍(du)(du)鋅，黃銅上鍍(du)(du)鎳(nie)）, 以(yi)及各種電(dian)(dian) 解(jie)速度(du)（例如(ru) 1, 2, 5, and 10 μm/min）。這些應用(yong)(yong)程(cheng) 式適用(yong)(yong)于(yu)多鍍(du)(du)層系統。

系(xi)(xi)統概述 一(yi)個(ge)測量系(xi)(xi)統包括 COULOSCOPE® CMS2 或 CMS2 STEP 和一(yi)個(ge)有(you)測量槽的支架（例如(ru)：STEP 測量槽）。 各(ge)種測量臺設計適(shi)合不(bu)同(tong)的應用。 可(ke)選(xuan)(xuan)配件(jian) 大量的可(ke)選(xuan)(xuan)配件(jian)使測量工(gong)(gong)作更便(bian)利(li)，確保了(le)安全的儲存 并為固定(ding)工(gong)(gong)件(jian)提供輔(fu)助。

固(gu)定(ding)工件的(de)(de)臺(tai)虎(hu)鉗，也同樣可以(yi)安裝(zhuang)在 V18 和 V24 的(de)(de)支撐板(ban)上 校準 校準時會(hui)產生一(yi)個修正(zheng)(zheng)系(xi)數(shu) 。這是(shi)由于測量槽密封(feng)墊子 的(de)(de)制造公差、鍍層(ceng)密度的(de)(de)變化、合金(jin)成分的(de)(de)變化，需要 該修正(zheng)(zheng)系(xi)數(shu)
COULOSCOPE CMS2 STEP 測量(liang)： 帶有球狀(zhuang)支(zhi)撐和可旋轉支(zhi)撐板的 V18 支(zhi)架(jia)。測量(liang)槽(cao)存(cun)(cun)放架(jia)可存(cun)(cun)放 3 個 100ml 的實驗室(shi)瓶。


COULOSCOPE® CMS2 的應用

作(zuo)為測量鍍層厚度的(de)方(fang)法(fa)之(zhi)一，庫侖法(fa)可以用于(yu) 各種鍍層組合。 尤(you)其對于(yu)多(duo)鍍層結構， 當允許破壞性測 量時，它提(ti)供了一個比(bi) X 射線更經濟的(de)替(ti)代方(fang)法(fa)。
應用(yong) 強(qiang)大并(bing)且用(yong)戶友(you)好的 COULOSCOPE CMS2 適用(yong)于(yu)電鍍行 業的生產監控和成(cheng)品的質量檢驗。
很(hen)多常見的單(dan)、雙鍍(du)層例如(ru)鐵鍍(du)鋅或者(zhe)銅鍍(du)鎳(nie)鍍(du)錫都可 以(yi)用 CMS2 簡單(dan)快速(su)地測(ce)(ce)量。這個(ge)方法為任何(he)金屬鍍(du)層 提供了(le)的測(ce)(ce)量。在厚度范(fan)圍 0.05 - 50 μm 內， 很(hen)多 材料不需要預設(she)定；基(ji)材組成和幾何(he)形狀對于測(ce)(ce)量都 是無關緊要的。 見的應用之一就是測(ce)(ce)量線(xian)路板上剩余的純錫，以(yi)確 保可焊(han)性。多鍍(du)層例如(ru) Cr/ Ni/Cu 在鐵或者(zhe)塑料（ABS） 基(ji)材上，經常被用于高品質的浴室(shi)用品，也可以(yi)用這個(ge) 方法進行測(ce)(ce)量。

庫侖(lun)鍍層(ceng)(ceng)(ceng)厚(hou)度測量法(DIN EN ISO 2177) 測量原理 這個系(xi)(xi)列儀器根據 DIN EN ISO 2177 標(biao)準的(de)庫侖(lun)法。 金(jin)(jin)屬或非金(jin)(jin)屬基材上的(de)金(jin)(jin)屬鍍層(ceng)(ceng)(ceng)，通過(guo)在控制電(dian)(dian)流(liu)條件 下(xia)電(dian)(dian)解腐蝕--------實際上就是(shi)(shi)(shi)電(dian)(dian)鍍的(de)反過(guo)程。所載入的(de)電(dian)(dian) 流(liu)與要剝離(li)(li)的(de)鍍層(ceng)(ceng)(ceng)厚(hou)度是(shi)(shi)(shi)成正比的(de)，假如(ru)電(dian)(dian)流(liu)和剝離(li)(li)面 積(ji)保持不變(bian)，鍍層(ceng)(ceng)(ceng)厚(hou)度與電(dian)(dian)解時間(jian)就是(shi)(shi)(shi)成正比的(de)關系(xi)(xi)。
下面的(de)公(gong)式適(shi)用(yong)于(yu)通(tong)過(guo)庫侖(lun)法電(dian)(dian)解(jie)(jie)腐蝕確定鍍(du)(du)層厚度(du)： d: 鍍(du)(du)層厚度(du) [µm] eÄ: 電(dian)(dian)化學當(dang)量 [g/As] I: 電(dian)(dian)解(jie)(jie)電(dian)(dian)流 [A] γ: 電(dian)(dian)解(jie)(jie)效率 t: 電(dian)(dian)解(jie)(jie)時(shi)間 [s] A: 電(dian)(dian)解(jie)(jie)面積 [cm2] ρ: 電(dian)(dian)解(jie)(jie)鍍(du)(du)層材料密(mi)度(du) [g/cm3] 測(ce)量槽------可比作微型電(dian)(dian)解(jie)(jie)缸------被用(yong)來剝離(li)鍍(du)(du)層。 測(ce)量 面積由裝(zhuang)在測(ce)量槽上的(de)墊圈(quan)尺寸來決(jue)定。對不同的(de)金屬(shu) 采用(yong)不同配方的(de)電(dian)(dian)解(jie)(jie)液。通(tong)過(guo)載入電(dian)(dian)流開始電(dian)(dian)解(jie)(jie)過(guo)程(cheng)。 電(dian)(dian)解(jie)(jie)過(guo)程(cheng)由 COULSCOPE 儀(yi)器的(de)電(dian)(dian)子(zi)部分控制， 用(yong)一 個泵攪拌電(dian)(dian)解(jie)(jie)液來使電(dian)(dian)解(jie)(jie)區域電(dian)(dian)解(jie)(jie)液平(ping)穩(wen)腐蝕，保證電(dian)(dian) 解(jie)(jie)液佳利用(yong)。 根(gen)據測(ce)量區域的(de)大小，各種直徑的(de)墊圈(quan) 可供選擇


COULOSCOPE® CMS2 STEP 的應(ying)用

STEP Test 是(shi)在(zai)允許腐蝕的(de)(de)情況下用來(lai)(lai)同時測量電(dian)(dian)位(wei)差和 多(duo)層鎳的(de)(de)鍍(du)層厚(hou)度(du)，該方法是(shi)這(zhe)個(ge)應(ying)(ying)用領域的(de)(de)標準。 應(ying)(ying)用 多(duo)層鎳鍍(du)層的(de)(de)品質(zhi)控制需要能(neng)在(zai)電(dian)(dian)鍍(du)完成后(hou)立刻檢(jian)查厚(hou) 度(du)和電(dian)(dian)位(wei)差的(de)(de)儀器(qi)。 COULOSCOPE CMS2 STEP 就(jiu)是(shi)為 這(zhe)個(ge)目(mu)的(de)(de)而設計的(de)(de)，它操作簡(jian)單，參(can)比電(dian)(dian)極使用起(qi)來(lai)(lai) 也不復(fu)雜，非常(chang)適合電(dian)(dian)鍍(du)工廠苛刻環境下的(de)(de)這(zhe)種(zhong)應(ying)(ying)用。
電(dian)鍍(du)鎳層(ceng)(ceng)用(yong)作(zuo)電(dian)解(jie)保護(hu)和(he)提(ti)高(gao)機(ji)器表面屬(shu)性，如硬度等。 特(te)別是(shi)汽車工業中(zhong)，電(dian)鍍(du)鎳部件在(zai)防腐(fu)蝕方(fang)面要(yao)滿(man)足很 高(gao)的(de)要(yao)求。單一鎳層(ceng)(ceng)無法(fa)滿(man)足該要(yao)求。因此，目前正在(zai) 開(kai)發非常復雜的(de)鍍(du)層(ceng)(ceng)系統，其中(zhong)包含(han)兩層(ceng)(ceng)、三層(ceng)(ceng)甚至(zhi)四 層(ceng)(ceng)鍍(du)鎳層(ceng)(ceng)，還有鉻或銅(tong)鍍(du)層(ceng)(ceng)。

STEP Test 測(ce)(ce)(ce)量(liang)(liang)(liang)(liang)(liang) (ASTM B764 --- 94 和 DIN EN ISO 2177) 測(ce)(ce)(ce)量(liang)(liang)(liang)(liang)(liang)原(yuan)理 STEP Test 是(shi)(Simultaneous Thickness and Electrochemical Potential determination)（同時測(ce)(ce)(ce)量(liang)(liang)(liang)(liang)(liang)鍍(du)(du)層厚(hou)度(du)和化學(xue)電(dian)(dian)位(wei)(wei) 差(cha)）的(de)(de)簡寫，是(shi)已經(jing)標準化很久的(de)(de)測(ce)(ce)(ce)量(liang)(liang)(liang)(liang)(liang)方法。它可(ke)以同時 測(ce)(ce)(ce)量(liang)(liang)(liang)(liang)(liang)各鍍(du)(du)層厚(hou)度(du)和多層鎳系統中(zhong)兩層之(zhi)間的(de)(de)電(dian)(dian)化學(xue)電(dian)(dian)位(wei)(wei) 差(cha)。 厚(hou)度(du)測(ce)(ce)(ce)量(liang)(liang)(liang)(liang)(liang)時用庫侖法來(lai)測(ce)(ce)(ce)量(liang)(liang)(liang)(liang)(liang)，電(dian)(dian)位(wei)(wei)差(cha)通過外面鍍(du)(du)一 層 AgCl 的(de)(de)銀參(can)比(bi)電(dian)(dian)極(ji)來(lai)測(ce)(ce)(ce)量(liang)(liang)(liang)(liang)(liang)。電(dian)(dian)壓曲線可(ke)以顯(xian)示在屏 幕上，鍍(du)(du)層厚(hou)度(du)和電(dian)(dian)位(wei)(wei)差(cha)可(ke)以在圖上讀出。 為了獲得可(ke)以比(bi)較的(de)(de)穩定電(dian)(dian)位(wei)(wei)差(cha)測(ce)(ce)(ce)量(liang)(liang)(liang)(liang)(liang)結(jie)果，參(can)比(bi)電(dian)(dian)極(ji)到(dao) 工(gong)件的(de)(de)距離必須(xu)始(shi)終保持(chi)不(bu)變(bian)。這個問題通過特殊的(de)(de)測(ce)(ce)(ce) 量(liang)(liang)(liang)(liang)(liang)槽(cao)得到(dao)解決。 銀參(can)比(bi)電(dian)(dian)極(ji)被設計成一個圓錐(zhui)形的(de)(de)環(huan)狀電(dian)(dian)極(ji)，并作為測(ce)(ce)(ce) 量(liang)(liang)(liang)(liang)(liang)槽(cao)底(di)部(bu)的(de)(de)外殼(ke)與(yu)測(ce)(ce)(ce)量(liang)(liang)(liang)(liang)(liang)槽(cao)蓋連接。測(ce)(ce)(ce)量(liang)(liang)(liang)(liang)(liang)槽(cao)的(de)(de)設計保證了 參(can)比(bi)電(dian)(dian)極(ji)與(yu)工(gong)件之(zhi)間的(de)(de)距離始(shi)終不(bu)變(bian)。


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